尼得科精密檢測科技株式會社(以下簡稱“本公司”)子公司尼得科SV Probe正式發售以下產品:①半導體設備溫度測量探針卡“TC(熱電偶)探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結構探針卡”。

近年來,電動汽車(EV)和工業設備等領域使用的功率半導體需求不斷增加,對高電壓、大電流功率半導體的檢測、特別是在高溫環境下進行更精確、高質量檢測的需求日益增長。

① “TC探針卡”

半導體設備溫度測量探針卡“TC探針卡”是搭載了應用熱電偶技術的探針“TC探針”的產品,可以像現有技術一樣與電極PAD接觸,在進行晶圓檢測的同時高精度測量設備表面溫度。

② 加壓結構探針卡

加壓結構探針卡是一種具有可加壓結構的探針卡,在設備小型化需求導致接觸端子間距變窄的情況下,能夠提高耐電壓性能。通過獨特技術,可以封入各種氣體,防止放電對設備造成的損壞。此外,封入氮氣不僅可以防止放電損壞,還能抑制檢測過程中探針和設備的氧化,從而延長探針壽命并提高其接觸性能。

本公司今后將繼續利用此次發售的產品技術,為半導體設備檢測提供更高價值的接觸解決方案。